名稱/產(chǎn)品簡稱GX 用 ASP 探頭 RMH110
，GX Ⅱ用 GP ASR 探頭 RMH501

規(guī)格
符合 JIS K 7194
引腳間距：5 毫米
引腳尖：0.37R x 4 件
彈簧壓力：220 克/件
應(yīng)用特性包括
導(dǎo)電塑料、導(dǎo)電涂料、薄膜等。 標準探頭兼容 JIS K7194。

名稱/產(chǎn)品縮寫

ESP 探頭 RMH114 for GX,GP
ESR 探頭
RMH502 for GXⅡ

規(guī)格
引腳間：5mm
引腳尖：φ2mm x 4
彈簧壓力：230g/件    
應(yīng)用
異質(zhì)樣品，如混合有碳粉、金屬粉末等的導(dǎo)電塑料（特別是注塑產(chǎn)品）
特點
引腳尖直徑為 2 mm 由于表面形狀，施加的電流容易流動。

名稱/產(chǎn)品簡稱

GX用LSP探頭 RMH116 ，GXⅡ用GP
LSR探頭
RMH503

規(guī)格
引腳間距：5mm
引腳尖：球 D2mm x 4 件彈簧壓力： 140g
/件  
應(yīng)用
導(dǎo)電橡膠和薄膜等 軟樣品 很難卡在橡膠中。

名稱/產(chǎn)品代碼

PSP 探頭 RMH112 for GX,GP
PSR 探頭
RMH504 for GXⅡ

規(guī)格
引腳間距：1.5mm引腳尖
：0.26R x 4
彈簧壓力：95g/個
應(yīng)用
薄膜、小樣品、狹窄空間
特點
薄膜用標準探針，引腳很細，引腳之間的距離為 1.5 mm 。

名稱/產(chǎn)品簡稱

GX用QP2探頭 RMH119 ，GXⅡ用GP
QR探頭
RMH505

規(guī)格
針腳間：1.5mm
針尖：0.26R x 4
彈簧壓力：95g/個
應(yīng)用 方形，特別適用于
小樣品和狹窄空間。電阻值約為4針串聯(lián)引腳的一半，手持式無法支持校正系數(shù)，因此不建議使用。

名稱/產(chǎn)品簡稱

GX用BSP探頭 RMH111 ，GXⅡ用GP
BSR探頭
RMH506

規(guī)格
： 引腳間距：2.5mm
引腳尖：0.37R x 4
彈簧壓力：170g/引腳
應(yīng)用：
兩個遠點之間的測量、前后表面之間的測量（層間電阻）、
4 個
引腳分為 2 個，像測試儀一樣測量右手拿著一張，左手拿著一張。至于主機，GXII 更方便，因為可以使用腳踏開關(guān)。

注）無法測量電阻率。

名稱/產(chǎn)品簡稱

GX用NSCP探頭 RMJ202 ，GXⅡ用GP
NSCR探頭
RMH507

規(guī)格
： 引腳間距：1.0mm
引腳尖：0.04R x 4 件
彈簧壓力：250g/件僅
適用于硅片，適用于
表面堅硬光滑的樣品，如陶瓷 引腳材料為碳化鎢，尖鋒利，堅固彈簧壓力。

名稱/產(chǎn)品縮寫
TFP 探頭
RMJ217 for GX（已售完）

規(guī)格
引腳間：1.0mm
引腳尖：0.15R x 4
彈簧壓力：50g/個
應(yīng)用
用于玻璃基板上的硅片或薄膜

名稱/產(chǎn)品代碼
AP2 探頭
RMH333 for GX,GP
AR 探頭
RMH508 for GXⅡ

規(guī)格
引腳間：10mm
引腳尖φ2 x 2
彈簧壓力：230g/引腳
應(yīng)用
用于 表面處理鋼板和鎂合金等化學(xué)轉(zhuǎn)化涂層
使用
2 端子法進行測量，包括接觸電阻，導(dǎo)致電阻值較高。由于電阻值不正確，我們不會將其轉(zhuǎn)換為電阻率。主要用于定性評價。
注）無法測量電阻率。

名稱/產(chǎn)品簡稱

GX 用 BP 探頭 RMH118 ，GX Ⅱ用 GP
BR 探頭
RMH509

規(guī)格
針尖：φ2 x 2
彈簧壓力：200g/針
用途
2 點探頭
用于表面處理鋼板和鎂合金等化學(xué)轉(zhuǎn)化涂層上兩個遠點之間的測量 用于使用 2 端子
法 注）無法測量電阻率。